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真空袋薄膜体积电阻率的测定将数层 100mm×100mm试样放在直径80mm的下电极上 ，真空袋价格，将电极与试样之间的空气排出 ，真空袋批发厂家，即完成测试准备工作。测试时按高阻计操作程序进行操作

，测定一分钟充电后试样的电阻值 ，然后测定三厚度由于材 料的结晶情况和薄膜的性能有关 ，与薄膜的成型性有关。因此 ，在薄膜的加工过程往往需要及时检测产品及半成品的结晶度。在一般情

况下 ，结晶聚合物不可能完全结晶 ，结晶的程度均是用材料中结晶部分的占聚合物的总的百分比来表示的。结晶度的测定方法有密度法 (密 度梯度法 )、 x射 线衍射法、红

外光谱法等。其中 ，由 于密度梯度法投资费用较低 ，目 前被很多薄膜生产厂广泛地使用。

真空袋薄膜测试设备的可溯源性，mocon所用的值传感器不需要校准 ，但mocon公司仍提供可溯源到nist的标准薄膜

，给客户作为一个选择性的验证手段 ，用户只需要在验证仪器的时候使用。mocon提供多种不同数量级的标准溯源膜 ，只要这几个标准膜的测量值在允许误差范围之内，根据线---

，就能---仪器处于较好的状态 ，实现全量程上的测试精度。普通电化学传感器(非库仑电量法)的透氧仪由于使用的是相对值传感器 ，所以它们必须要使用标准薄膜进行校准补偿

，使用三张标准膜 ，其实只能对三种氧气浓度梯度进行校准 ，由于是非线---，这三个校准点的准确性并不能代表其他点的准确性，因而不能---全量程的准确性。