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真空袋薄膜体积电阻率的测定将数层 100mm×100mm试样放在直径80mm的下电极上 ，将电极与试样之间的空气排出 ，即完成测试准备工作。测试时按高阻计操作程序进行操作

，测定一分钟充电后试样的电阻值 ，然后测定三厚度由于材 料的结晶情况和薄膜的性能有关 ，与薄膜的成型性有关。因此 ，在薄膜的加工过程往往需要及时检测产品及半成品的结晶度。在一般情

况下 ，结晶聚合物不可能完全结晶 ，结晶的程度均是用材料中结晶部分的占聚合物的总的百分比来表示的。结晶度的测定方法有密度法 (密 度梯度法 )、 x射 线衍射法、红

外光谱法等。其中 ，由 于密度梯度法投资费用较低 ，目 前被很多薄膜生产厂广泛地使用。

真空袋薄膜传统压差法的比较传统的压差法的测试原理相对简单 ，只需要对气压进行测量，而且可以测试材料对多种气体的阻隔性。但是压差法在某准确性及应用方面 ，真空袋，有着较大的局限性。压差法的测试下限只能达到0.5ml/(m2·d)，再小的透过率数据是不能---精度的，因而压差法已经不能适用于高阻隔材料的检测。这个压差的存在会破坏材料本身的性能结构。压差法不能测试完整的包装件。测试的重复性较差 ，---都没有溯源标准膜的供应，只能用原厂的参考膜进行验证 ，不同生产商的设备之间没有一个统一的参考值。抽真空技术好坏直接影响到测试准确性和测试效率。在高透过的测试范围里 ，压 差法可以和等压法进行相互印证，等 压-库 仑电量传感器法作为一个---、的测试方法 ，利 用其传感器的线---来---了在低透过的测试范围里的测试精度。